1.采用美國原裝熱電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨力高，探測范圍寬，涵蓋ROHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。

    2.配置國際先進的DPP數(shù)字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數(shù)率時有更好的分辨力（如Hg和CI等），高達80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時間更短，整機測量重復(fù)性和長期穩(wěn)定性更好。

    3.內(nèi)置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣本，準確定位樣品測試區(qū)域。

    4.配套最新的FP測量軟件.集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰,低含量和痕量元素的檢測結(jié)果更加準確,更加接近真值水平。

 

    儀器性能及配置

    分析范圍1ppmto100%

    精度RSD≤0.05%Au≥90%

    測試樣品的物理狀態(tài)固體、粉末、液體

    光管電壓5KV-50KV/可選配進口光管

    高壓電源0-50KV

    光管管流0μA-1000μA

    攝像頭高清攝像頭

    準直器\濾光片自動切換系統(tǒng)

    探測器美國AmptekSi-Pin/SDD

    分辨率Si-pin160±5eV/SDD135±5eV

    多道分析器ZPY-DMCP

    測試時間30sec-100sec

    分析常見元素Pb,Hg,Br,Cr,Cd,Ba,Sb,As..etc.

    分析軟件ZPY-FP定性定量分析軟件

    外觀尺寸：560×410×340mm

    樣品腔尺寸：400×290×90mm

    重量：36Kg

    儀器環(huán)境要求

    環(huán)境溫度15℃-30℃

    相對濕度35%-70%

    電源要求AC220V±5V,50/60HZ

    附近無大功率電磁和振動干擾源